隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,自動(dòng)化測(cè)試模組將朝著更加智能化、高效化的方向發(fā)展。人工智能和機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)將深度融入其中,使測(cè)試模組能夠自動(dòng)生成測(cè)試用例、智能識(shí)別缺陷類(lèi)型、預(yù)測(cè)測(cè)試結(jié)果等。例如,通過(guò)對(duì)歷史測(cè)試數(shù)據(jù)的學(xué)習(xí),測(cè)試模組可自動(dòng)判斷哪些功能點(diǎn)容易出現(xiàn)問(wèn)題,從而有針對(duì)性地加強(qiáng)測(cè)試。同時(shí),自動(dòng)化測(cè)試模組將更加注重與其他開(kāi)發(fā)工具和平臺(tái)的深度融合,實(shí)現(xiàn)測(cè)試流程與整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)生命周期的無(wú)縫銜接。此外,在云計(jì)算技術(shù)的支持下,自動(dòng)化測(cè)試模組將具備更強(qiáng)的分布式測(cè)試能力,能夠在更短時(shí)間內(nèi)完成大規(guī)模、復(fù)雜項(xiàng)目的測(cè)試任務(wù),為軟件行業(yè)的發(fā)展注入新的活力。自動(dòng)化測(cè)試模組讓東莞市虎山電子有限公司的產(chǎn)品更加可靠、耐用。揚(yáng)州高壽命自動(dòng)化測(cè)試模組檢測(cè)
針對(duì)PCIe 5.0/USB4等高速接口(32Gbps),自動(dòng)化測(cè)試模組需解決信號(hào)完整性挑戰(zhàn):眼圖測(cè)試:通過(guò)BERTScope(如Keysight N1092D)分析抖動(dòng)(RJ<0.1UI)、眼高(>50mV)。采用PRBS31碼型模擬壞情況,結(jié)合去嵌入技術(shù)(De-embedding)消除夾具影響。阻抗匹配:PCB走線嚴(yán)格控阻(100Ω±5%),使用Megtron 6材料(Dk=3.7@10GHz)降低損耗。時(shí)域反射計(jì)(TDR):定位阻抗突變點(diǎn)(分辨率<1mm),如蘋(píng)果A系列芯片測(cè)試中通過(guò)TDR發(fā)現(xiàn)封裝微凸點(diǎn)(μBump)虛焊缺陷。前沿方案包括:硅光耦合測(cè)試(減少高頻串?dāng)_)、AI驅(qū)動(dòng)的自適應(yīng)均衡算法(補(bǔ)償通道損耗)。宿遷高直通率自動(dòng)化測(cè)試模組工廠直銷(xiāo)面對(duì)復(fù)雜的業(yè)務(wù)流程測(cè)試,自動(dòng)化測(cè)試模組以其準(zhǔn)確的腳本執(zhí)行和詳盡的報(bào)告功能,成為我們的質(zhì)量保障工具。
在工業(yè)4.0柔性制造生產(chǎn)線中,工業(yè)機(jī)器人、可編程邏輯控制器(PLC)等關(guān)鍵設(shè)備緊密協(xié)作,共同完成復(fù)雜的生產(chǎn)任務(wù)。東莞市虎山電子有限公司匠心鑄就品質(zhì)基石,其自動(dòng)化測(cè)試模組成為維系高效生產(chǎn)的關(guān)鍵“紐帶”。在工業(yè)機(jī)器人測(cè)試方面,模組模擬焊接、裝配、搬運(yùn)等多種實(shí)際生產(chǎn)任務(wù)流程,對(duì)機(jī)器人關(guān)節(jié)的運(yùn)動(dòng)精度、負(fù)載能力以及路徑規(guī)劃優(yōu)化能力進(jìn)行嚴(yán)格檢測(cè)。確保工業(yè)機(jī)器人在生產(chǎn)過(guò)程中能夠準(zhǔn)確、高效地完成各種操作,提高產(chǎn)品的加工質(zhì)量與生產(chǎn)效率。對(duì)于PLC,模組深度測(cè)試梯形圖編程邏輯的正確性、輸入輸出信號(hào)響應(yīng)的及時(shí)性以及工業(yè)以太網(wǎng)通信的穩(wěn)定性。保障PLC能夠精細(xì)地控制生產(chǎn)線上的各種設(shè)備,實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程的自動(dòng)化與智能化。通過(guò)對(duì)工業(yè)4.0柔性制造生產(chǎn)線關(guān)鍵設(shè)備的 測(cè)試,提升整個(gè)生產(chǎn)線的協(xié)同工作能力與生產(chǎn)效率,推動(dòng)制造業(yè)向智能化、柔性化方向轉(zhuǎn)型升級(jí)。
自動(dòng)化測(cè)試模組(AutomatedTestModule,ATM)是由硬件平臺(tái)、測(cè)試軟件、信號(hào)接口及數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)構(gòu)成的集成化測(cè)試解決方案。其關(guān)鍵硬件包括:測(cè)試控制器:通常采用PXIe或LXI架構(gòu),搭載多核處理器(如IntelXeon),支持實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)(RTOS)以確保時(shí)序精度(±1μs)。信號(hào)發(fā)生與采集單元:高精度AWG(任意波形發(fā)生器)和DAQ(數(shù)據(jù)采集卡),如KeysightM9703A支持16位分辨率、1GS/s采樣率,滿足5GNR信號(hào)的毫米波測(cè)試需求。DUT接口:彈簧針(PogoPin)或射頻同軸連接器(SMA3.5mm),接觸阻抗<10mΩ,壽命>50萬(wàn)次插拔。軟件層面基于LabVIEW或Python開(kāi)發(fā)測(cè)試序列,集成SCPI指令集控制儀器,并通過(guò)MES系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)追溯。例如,特斯拉電池模組測(cè)試線采用NIPXI平臺(tái),單站測(cè)試周期縮短至12秒,誤測(cè)率<0.01%。我們東莞市虎山電子有限公司,用自動(dòng)化測(cè)試模組為客戶創(chuàng)造價(jià)值,為社會(huì)貢獻(xiàn)力量。
在量子通信基站搭建、量子計(jì)算設(shè)備研制這一前沿科技賽道上,自動(dòng)化測(cè)試模組肩負(fù)著守護(hù)“量子態(tài)”精密運(yùn)行的重任。東莞市虎山電子有限公司敢為人先,在這一領(lǐng)域積極探索并取得了 成果。在量子通信基站測(cè)試方面,其模組聚焦光子糾纏態(tài)制備、傳輸與檢測(cè)環(huán)節(jié),運(yùn)用超精密單光子探測(cè)器、量子態(tài)分析儀等先進(jìn)設(shè)備,模擬光纖衰減、環(huán)境噪聲干擾等實(shí)際傳輸過(guò)程中可能遇到的問(wèn)題,對(duì)量子密鑰分發(fā)的安全性、通信速率的穩(wěn)定性進(jìn)行嚴(yán)格校驗(yàn)。確保量子通信的信息傳輸安全可靠,為未來(lái)高速、安全的通信網(wǎng)絡(luò)奠定基礎(chǔ)。在量子計(jì)算設(shè)備測(cè)試方面,針對(duì)超導(dǎo)量子比特、離子阱量子比特操控系統(tǒng),檢測(cè)微波脈沖控制精度、量子比特相干時(shí)間、糾錯(cuò)碼效能等關(guān)鍵性能指標(biāo)。助力科研人員攻克量子計(jì)算技術(shù)難題,推動(dòng)量子計(jì)算設(shè)備的實(shí)用化進(jìn)程,為我國(guó)在量子科技領(lǐng)域的發(fā)展貢獻(xiàn)力量。通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試模組,我們實(shí)現(xiàn)了測(cè)試腳本的復(fù)用和版本管理,有效降低了測(cè)試成本,提高測(cè)試資源的使用效率。深圳高直通率自動(dòng)化測(cè)試模組五星服務(wù)
東莞市虎山電子有限公司的自動(dòng)化測(cè)試模組,為產(chǎn)品走向世界奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。揚(yáng)州高壽命自動(dòng)化測(cè)試模組檢測(cè)
按測(cè)試對(duì)象劃分,自動(dòng)化測(cè)試模組可分為電子元件測(cè)試模組、模組級(jí)測(cè)試模組及系統(tǒng)級(jí)測(cè)試模組。電子元件測(cè)試模組針對(duì)電阻、電容、芯片等分立器件,配備專門(mén)的夾具與高頻測(cè)試電路,可實(shí)現(xiàn) 1000 件 / 小時(shí)的批量檢測(cè),如 IC 測(cè)試模組能精確測(cè)量芯片的耐壓值、漏電流等參數(shù)。模組級(jí)測(cè)試模組聚焦 PCB 組件、傳感器模組等,集成多通道信號(hào)發(fā)生器,模擬復(fù)雜工況下的輸入信號(hào),例如汽車(chē)?yán)走_(dá)模組測(cè)試模組可仿真多普勒效應(yīng)。系統(tǒng)級(jí)測(cè)試模組則針對(duì)整機(jī)產(chǎn)品,如智能手機(jī)測(cè)試模組,通過(guò)機(jī)械臂模擬用戶操作,同步檢測(cè)屏幕顯示、音頻輸出等 20 余項(xiàng)功能,覆蓋產(chǎn)品全性能驗(yàn)證。揚(yáng)州高壽命自動(dòng)化測(cè)試模組檢測(cè)