金相顯微鏡的使用注意事項(xiàng)：1.操作時(shí)必須特別謹(jǐn)慎，不能有任何劇烈的動(dòng)作，不允許自行拆卸光學(xué)系統(tǒng)。2.嚴(yán)禁用手指直接接觸顯微鏡鏡頭的玻璃部分和試樣磨面。若鏡頭上落有灰塵，會(huì)影響顯微鏡的清晰度與分辨率。此時(shí)，應(yīng)先用洗耳球吹去灰塵和砂粒，再用鏡頭紙或毛刷輕輕擦拭，以免直接擦試時(shí)劃花鏡頭玻璃，影響使用效果。3.切勿將顯微鏡的燈泡(6~8V)插頭直接插在220V的電源插座上，應(yīng)當(dāng)插在變壓器上，否則會(huì)立即燒壞燈泡。觀察結(jié)束后應(yīng)及時(shí)關(guān)閉電源。4.在旋轉(zhuǎn)粗調(diào)(或微調(diào))手輪時(shí)動(dòng)作要慢，碰到某種阻礙時(shí)應(yīng)立即停止操作，報(bào)告指導(dǎo)教師查找原因，不得用力強(qiáng)行轉(zhuǎn)動(dòng)，否則會(huì)損壞機(jī)件。金相顯微鏡是專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射光顯微鏡中觀察，因此金相和普通顯微鏡的主要差別在于前者以反射光，而后者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面，被物面反射后再返回物鏡成像。這種反射照明方式也用于集成電路硅片的檢測(cè)工作。上海顯微鏡提供產(chǎn)品技術(shù)支持,貼心的光學(xué)儀器供應(yīng)商,點(diǎn)擊咨詢!山東官方顯微鏡公司

▽超細(xì)顆粒制備方法示意圖來源：公開資料▽材料薄膜制備過程示意圖來源：公開資料5圖像類別（1）明暗場(chǎng)襯度圖像明場(chǎng)成像（Brightfieldimage）:在物鏡的背焦面上，讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到圖像襯度的方法。暗場(chǎng)成像（Darkfieldimage）:將入射束方向傾斜2θ角度，使衍射束通過物鏡光闌而把透射束擋掉得到圖像襯度的方法。▽明暗場(chǎng)光路示意圖▽硅內(nèi)部位錯(cuò)明暗場(chǎng)圖來源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]（2）.辨TEM（HRTEM）圖像HRTEM可以獲得晶格條紋像（反映晶面間距信息）；結(jié)構(gòu)像及單個(gè)原子像（反映晶體結(jié)構(gòu)中原子或原子團(tuán)配置情況）等分辨率更高的圖像信息。但是要求樣品厚度小于1納米。▽HRTEM光路示意圖▽硅納米線的HRTEM圖像來源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]（3）電子衍射圖像l選區(qū)衍射（Selectedareadiffraction,SAD）:微米級(jí)微小區(qū)域結(jié)構(gòu)特征。l會(huì)聚束衍射（Convergentbeamelectrondiffraction,CBED）:納米級(jí)微小區(qū)域結(jié)構(gòu)特征。l微束衍射（Microbeamelectrondiffraction,MED）:納米級(jí)微小區(qū)域結(jié)構(gòu)特征。阜陽顯微鏡采購顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志。

徠卡石棉顯微鏡簡(jiǎn)要描述：石棉是天然的纖維狀的硅酸鹽類礦物質(zhì)的總稱，共計(jì)6種礦物：有蛇紋石石棉、角閃石石棉、陽起石石棉、直閃石石棉、鐵石棉、透閃石石棉等。石棉具有高度耐火性、電絕緣性和絕熱性，是重要的防火、絕緣和保溫材料，在建筑、汽車、船舶等行業(yè)中應(yīng)用。徠卡石棉顯微鏡主要用于檢測(cè)和區(qū)分石棉的種類，有多種規(guī)格可以選擇：DM750P、DM2700P。徠卡石棉顯微鏡DM2700P擁有以下關(guān)鍵光學(xué)部件：無應(yīng)力光學(xué)部件，因?yàn)槟枰_保觀測(cè)到的雙折射來自樣品而非光學(xué)部件LED照明至關(guān)重要，因?yàn)檫@種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉(zhuǎn)臺(tái)幫助您對(duì)準(zhǔn)樣品和光軸您還需要用于對(duì)光軸進(jìn)行錐光觀察的勃氏鏡和用于測(cè)量任務(wù)的補(bǔ)償器。

LFM是檢測(cè)表面不同組成變化的SFM技術(shù)。它可以識(shí)別聚合混合物、復(fù)合物和其他混合物的不同組分間轉(zhuǎn)變，鑒別表面有機(jī)或其他污染物以及研究表面修飾層和其他表面層覆蓋程度。它在半導(dǎo)體、高聚物沉積膜、數(shù)據(jù)貯存器以及對(duì)表面污染、化學(xué)組成的應(yīng)用觀察研究是非常重要的。LFM之所以能對(duì)材料表面的不同組分進(jìn)行區(qū)分和確定，是因?yàn)楸砻嫘再|(zhì)不同的材料或組分在LFM圖像中會(huì)給出不同的反差。例如，對(duì)碳?xì)漪人岷筒糠址人岬幕旌螸B膜體系，LFM能夠有效區(qū)分開C-H和C-F相。這些相分離膜上，H-C相、F-C相及硅基底間的相對(duì)摩擦性能比是1：4：10。說明碳?xì)漪人峥梢杂行峁┑湍Σ列裕糠址人釀t是很好的抗阻劑。不僅如此，LFM也已經(jīng)成為研究納米尺度摩擦學(xué)-潤(rùn)滑劑和光滑表面摩擦及研磨性質(zhì)的重要工具。為研究原子尺度上的摩擦機(jī)理，Mate等和Ruan、Bhan對(duì)新鮮解離的石墨（HOPG）進(jìn)行了表征。HOPG原子尺度摩擦力顯示出高定向裂解處與對(duì)應(yīng)形貌圖像具有相同周期性（圖），然而摩擦和形貌圖像中的峰值位置彼此之間發(fā)生了相對(duì)移動(dòng)（圖）。利用原子間勢(shì)能的傅里葉公式對(duì)摩擦力針尖和石墨表面原子間平衡力的計(jì)算結(jié)果表明，垂直和橫向方向的原子間力比較大值并不在同一位置。采購顯微鏡廠家-茂鑫-提供品質(zhì)顯微鏡廠家！

微懸臂被壓電驅(qū)動(dòng)器激發(fā)到共振振蕩。振蕩振幅用來作為反饋信號(hào)去測(cè)量樣品的形貌變化。在相位成像中，微懸臂振蕩的相角和微懸臂壓電驅(qū)動(dòng)器信號(hào)，同時(shí)被EEM（extenderelectronicsmodule）記錄，它們之間的差值用來測(cè)量表面性質(zhì)的不同（如圖）?？赏瑫r(shí)觀察輕敲模式形貌圖像和相位圖像，并且分辨率與輕敲模式原子力顯微鏡（AFM）的相當(dāng)。相位圖也能用來作為實(shí)時(shí)反差增強(qiáng)技術(shù)，可以更清晰觀察表面完好結(jié)構(gòu)并不受高度起伏的影響。大量結(jié)果表明，相位成像同摩擦力顯微鏡（LFM）相似，都對(duì)相對(duì)較強(qiáng)的表面摩擦和粘附性質(zhì)變化很靈敏。目前，雖然還沒有明確的相位反差與材料單一性質(zhì)間的聯(lián)系，但是實(shí)例證明，相位成像在較寬應(yīng)用范圍內(nèi)可給出很有價(jià)值的信息。例如，利用力調(diào)制和相位技術(shù)成像LB膜等柔軟樣品，可以揭示出針尖和樣品間的彈性相互作用。另外，相位成像技術(shù)彌補(bǔ)了力調(diào)制和LFM方法中有可能引起樣品損傷和產(chǎn)生較低分辨率的不足，經(jīng)常可提供更.辨率的圖像細(xì)節(jié)，提供其他SFM技術(shù)揭示不了的信息。相位成像技術(shù)在復(fù)合材料表征、表面摩擦和粘附性檢測(cè)以及表面污染過程觀察等廣泛應(yīng)用表明，相位成像將對(duì)在納米尺度上研究材料性質(zhì)起到重要作用。顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構(gòu)成的一種光學(xué)儀器，是人類進(jìn)入原子時(shí)代的標(biāo)志。江蘇顯微鏡供應(yīng)

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徠卡偏光顯微鏡是徠卡顯微鏡系列中的一種，偏光顯微鏡是一種在其光學(xué)系統(tǒng)中包含偏振器的顯微鏡，它能夠顯示和分析材料的各種光學(xué)性質(zhì)，如折射率、雙折射、吸收、散射等。徠卡品牌通常與高質(zhì)量、高級(jí)別的光學(xué)設(shè)備相關(guān)聯(lián)，因此徠卡偏光顯微鏡被認(rèn)為是一種高精密的設(shè)備。DM2700P徠卡偏光顯微鏡是地球科學(xué)，塑料和聚合物行業(yè)，液晶檢查以及更多領(lǐng)域中各種常規(guī)檢查任務(wù)的理想檢查工具。無論是產(chǎn)品設(shè)計(jì)工藝還是內(nèi)在性能，總能為您帶來意想不到的驚喜。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，DM2700P徠卡偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量控制任務(wù)。應(yīng)用：地球科學(xué)：地質(zhì)學(xué)、巖石學(xué)、礦物學(xué)、晶體結(jié)構(gòu)表征、石棉分析和煤分析(鏡質(zhì)體反射率)。質(zhì)量控制：玻璃(應(yīng)力雙折射或夾雜物)、塑料和聚合物(應(yīng)力雙折射)、紡織品和纖維、電子顯示器和液晶檢查。山東官方顯微鏡公司